• Nowy

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych

0,00 zł
Brutto

AutorzyStanisław Adamczak

ISBN978-83-01-23339-6

Rok wydania2023

Strony450

Fragment

Językipolski

Nr produktu04F22603EB

ZabezpieczenieDL-ebwm

Format

redeem

Za ten produkt nie ma punktów lojalnościowych


local_shippingOtrzymasz nawet w ciągu 15 sekund

Ilość

Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni. Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce. Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

TematykaTechnika

AutorzyStanisław Adamczak

WydawnictwoWydawnictwo Naukowe PWN

Rok wydania2023

ISBN978-83-01-23339-6

04F22603EB